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土壌環境中の有害元素の挙動

放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション

書誌詳細情報

土壌環境中の有害元素の挙動

放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション

著者 日本土壌肥料学会

定価 3,080円 (税込)

ISBNコード 9784826802215

発行日 2012/11

出版 博友社

判型/頁数 B6 170ページ

在庫 あり

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解説

2011年土壌肥料学会シンポジウム「土壌の非破壊分析はどこまで可能になったか-放射光源X線分析の可能性を探る」の内容を再編成したもの。

目次

1 土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源X線分光法―特徴・測定方法、将来展望
2 水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をXAFS法で探る
3 XANESとHPLC‐ICP‐MSを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析
4 XAFS法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明
5 射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とXAFSによる化学状態分析

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